Influence of ion-beam etching by Ar ions with an energy of 200–1000 eV on the roughness and sputtering yield of a single-crystal silicon surface
M. S. Mikhailenko, A. E. Pestov, N. I. Chkhalo, M. V. Zorina, A. K. Chernyshev, N. N. Salashchenko, I. I. Kuznetsov
Abstract
The behavior of sputtering yield and the surface roughness of monocrystalline silicon of orientations <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟨</mml:mo> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>100</mml:mn> </mml:mrow> </mml:mrow> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟩</mml:mo> </mml:math> , <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟨</mml:mo> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>110</mml:mn> </mml:mrow> </mml:mrow> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟩</mml:mo> </mml:math> , and <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟨</mml:mo> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>111</mml:mn> </mml:mrow> </mml:mrow> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟩</mml:mo> </mml:math> under the ion-beam bombardment by neutralized Ar ions with energies of 200–1000 eV is studied. The significant dependence (modulation) of sputtering yield on incidence angle due to crystalline structure is observed. It is shown that a sharp increase in the sputtering yield and a decrease in the effective surface roughness at energies above 400 eV occurs. At energies of more than 400 eV for orientations <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟨</mml:mo> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>100</mml:mn> </mml:mrow> </mml:mrow> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟩</mml:mo> </mml:math> , <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟨</mml:mo> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>110</mml:mn> </mml:mrow> </mml:mrow> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟩</mml:mo> </mml:math> , and <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟨</mml:mo> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>111</mml:mn> </mml:mrow> </mml:mrow> <mml:mo fence="false" stretchy="false">⟩</mml:mo> </mml:math> at normal ion incidence, smoothing of the effective roughness in the range of spatial frequencies <mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"> <mml:mi>ν</mml:mi> <mml:mo>∈</mml:mo> <mml:mo stretchy="false">[</mml:mo> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>4</mml:mn> </mml:mrow> <mml:mo>.</mml:mo> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>9</mml:mn> <mml:mo>⋅</mml:mo> <mml:mn>1</mml:mn> </mml:mrow> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:msup> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>0</mml:mn> </mml:mrow> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mo>−</mml:mo> <mml:mn>2</mml:mn> </mml:mrow> </mml:msup> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mo>−</mml:mo> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>6</mml:mn> </mml:mrow> <mml:mo>.</mml:mo> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>3</mml:mn> <mml:mo>⋅</mml:mo> <mml:mn>1</mml:mn> </mml:mrow> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:msup> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mn>0</mml:mn> </mml:mrow> </mml:mrow> <mml:mn>1</mml:mn> </mml:msup> </mml:mrow> <mml:mspace width="thickmathspace"/> <mml:mtext>µ</mml:mtext> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:msup> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mi mathvariant="normal">m</mml:mi> </mml:mrow> </mml:mrow> <mml:mrow class="MJX-TeXAtom-ORD"> <mml:mo>−</mml:mo> <mml:mn>1</mml:mn> </mml:mrow> </mml:msup> </mml:mrow> <mml:mo stretchy="false">]</mml:mo> </mml:math> up to a value of 0.17 nm is observed. This makes it possible to use the ion-beam etching technique for finishing polishing, aspherization, and correction of local shape errors of single-crystal silicon substrates, which are of the greatest interest for synchrotrons of the 3rd+ and 4th generation and x-ray free electron lasers.